最快0.5ms，高速、高稳定测量，节省空间的半个机架大小 ● 测量频率1mhz~300mhz
● 测量时间：最快0.5ms
● 基本精度±0.72%rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能（dcr测量、hi-z筛选、波形判定）
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量 主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪im7580a专用的测试治具。 基本参数| 测量模式 | lcr（lcr测量），分析（扫频测量），连续测量 |
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| 测量参数 | z, y, θ, rs (esr), rp, x, g, b, cs, cp, ls, lp, d (tanδ), q |
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| 精度保证范围 | 100 mω~5 kω |
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| 显示范围 | z: 0.00m~9.99999 gω / rs, rp, x: ± (0.00 m~9.99999 gω)
ls, lp: ± (0.00000 n~9.99999 gh) / q: ± (0.00~9999.99)
θ: ± (0.000°~999.999°), cs, cp: ± (0.00000 p~9.99999 gf)
d: ± (0.00000~9.99999), y: (0.000 n~9.99999 gs)
g, b: ± (0.000 n~9.99999 gs), δ%: ± (0.000 %~999.999 %) |
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| 基本精度 | z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41° |
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| 测量频率 | 1 mhz~300 mhz (100 hz~10 khz步进) |
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| 测量信号电平 | 功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ 7.0 dbm
电压 (v)模式: 4 mv~1001 mvrms
电流 ( i )模式: 0.09 ma~20.02marms |
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| 输出阻抗 | 50 ω (10 mhz时) |
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| 显示 | 彩色tft8.4英寸、触屏 |
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| 测量时间 | 最快0.5ms（fast、模拟测量时间、代表值） |
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| 功能 | 接触检查、比较器、bin判定（分类功能）、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿 |
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| 接口 | ext i/o (处理器), usb通讯, u盘, lan
rs-232c (选件), gp-ib (选件) |
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| 电源 | ac 100~240 v, 50/60 hz, 70 va max |
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| 体积和重量 | 主机: 215w × 200h × 268d mm, 6.5 kg
测试头: 61w × 55h × 24d mm, 175 g |
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| 附件 | 电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, cd-r (通讯使用说明书) ×1 |
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